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	椭园偏振光法测钢表面防腐膜的光学常数
	叶秀贞
	1980
关键词	光学常数 半导体表面 偏振光法 干涉法 界面性质 波片 线偏振光 寻常光线 测量精度 检偏器
英文摘要	关于表面膜的研究,在三十年代化学家Langmiur用干涉法测量了极薄膜的厚度,随着科学的发展至1944年建立了椭园仪,到第二次世界大战以后用光电倍增管替代目测,使仪器的灵敏度大大提高。本法的特点是:(1) 能测很薄的膜厚。(2) 测量精度高(误差小于10A)。(3) 能同时测定膜厚和膜的折射率(折射率是物质的特性,也可以用此性质作为分析工具)。(4) 是非破坏性的,样品还能作其它实验之用。因此,本方法为研究表面化学的有力工具之一,例如研究催化、电极反应、生物膜、半导体表面及表面药刻等有关界面性质,应用; 0; 01; 16-26
语种	中文
出处	知网
出版者	陕西化工
内容类型	其他
源URL	[http://hdl.handle.net/20.500.11897/80792]
专题	化学与分子工程学院
推荐引用方式 GB/T 7714	叶秀贞. 椭园偏振光法测钢表面防腐膜的光学常数. 1980-01-01.

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