QQ客服 官方微博 反馈留言

	X射线光电子能谱仪应用--特殊样品测量及复杂图谱解析; Application of X-ray photoelectron spectroscopy: detection and analysis of special sample and complex spectrum
	谢景林
	2009
关键词	光电子能谱 样品处理 曲线拟合 Ce Fe
英文摘要	X射线光电子能谱(XPS)是材料表面元素定性和半定量分析的重要手段之一.在XPS测量实验中,使用绝缘方法来安置导电不均匀样品到导电的样品台上进行常规XPS测量,方便地得到满意的图谱数据;在数据处理中,针对扫描谱图中的峰位、峰强度、峰宽和峰形等情况,利用XPX图谱分析软件的拟合分析功能,对多价态混合的复杂样品(例如:Ce和Fe的多价态样品)的XPS图谱进行处理,采用单一价态的实验数据为模版对混合图谱进行拟合处理,比较容易地获得常规方法不易得到的不同价态的定性及半定量结果.本文对以上方法分别作举例说明.; 中国科技核心期刊(ISTIC); 0; 5; 16-20; 15
语种	中文
出处	知网 ; 万方 ; http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_xdyq200905003.aspx
出版者	现代仪器
内容类型	其他
源URL	[http://hdl.handle.net/20.500.11897/80317]
专题	化学与分子工程学院
推荐引用方式 GB/T 7714	谢景林. X射线光电子能谱仪应用--特殊样品测量及复杂图谱解析, Application of X-ray photoelectron spectroscopy: detection and analysis of special sample and complex spectrum. 2009-01-01.

个性服务

查看访问统计

相关权益政策

暂无数据

收藏/分享

除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。