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	ICP-AES法分析高纯铱中间制品中的微量贵金属杂质
	申国荣 ; 顾燕恬 ; 考尚铭 ; 方锡义 ; 赵匡华
	1986
关键词	金属杂质 线性区 精制过程 分析线 中控 检测限 基体效应 贮备溶液 平面光栅摄谱仪 ICP-AES
英文摘要	本文提出一种用ICP-AES法直接测定高含量铱中微量铑,铂,钯,金的快迅分析方法。ICP工作参数由正交实验选出,在选定的工作条件下各被测元素的浓度线性区间分别为:Rh,0.3—100μgml~(-1);Pt,1.0—100μgml~(-1);Pd,1.0—100μgml~(-1);Au1.0—100μgml~(-1)。相应检测限分别为:Rh,0.086μgml~(-1);Pt,0.24μgml~(-1);Pt,0.17μgml~(-1);Au,0.063μgml~(-1)。它们的回收率一般在95—105%范围内。实验证明,本方法很适用于高纯铱精制过程的中控分析。; 0; 06; 47-52
语种	中文
出处	知网
出版者	光谱学与光谱分析
内容类型	其他
源URL	[http://hdl.handle.net/20.500.11897/78866]
专题	化学与分子工程学院
推荐引用方式 GB/T 7714	申国荣,顾燕恬,考尚铭,等. ICP-AES法分析高纯铱中间制品中的微量贵金属杂质. 1986-01-01.

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