| 化学光谱法测定高纯氧化钇中微量轻、中稀土杂质——HEH(EH)P萃取富集法 | |
| 陈凤翔 ; 李标国 ; 葛辉 | |
| 1984 | |
| 关键词 | 氧化钇 化学光谱 富集系数 杂质测定 变动系数 测定下限 富集倍数 错流萃取 EH)P HEH |
| 英文摘要 | 本文采用HEH(EH)P错流萃取,富集高纯氧化钇中微量稀土杂质的化学光谱法,测定La-Ho等九个稀土元素(Eu除外)。La-Sm的富集系数为1—0.9;Gd-Ho的富集系数为0 .8—0.16。稀土杂质总量的测定下限8.5ppm。制成光谱样品前的整个操作可在4—6小时内完成。测定的变动系数为6.1—17.7％。加入2ppm稀土杂质的回收率为87—115％,加入5ppm的回收率为98.7—110.6％。本方法可用于高纯Y_2O_3生产的控制分析和产品分析。; 0; 04; 77-84 |
| 语种 | 中文 |
| 出处 | 知网 |
| 出版者 | 北京大学学报 自然科学版 |
| 内容类型 | 其他 |
| 源URL | [http://hdl.handle.net/20.500.11897/78119]  |
| 专题 | 化学与分子工程学院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈凤翔,李标国,葛辉. 化学光谱法测定高纯氧化钇中微量轻、中稀土杂质——HEH(EH)P萃取富集法. 1984-01-01. |
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