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	用场发射显微镜测量单壁碳纳米管的逸出功; FIELD EMISSION MICROSCOPY STUDY OF THE WORK FUNCTION OF SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBES
	张兆祥 ; 孙建平 ; 侯士敏 ; 赵兴钰 ; 施祖进 ; 顾镇南 ; 刘惟敏 ; 薛增泉
	2002
关键词	场发射 场发射显微镜 单壁碳纳米管 逸出功
英文摘要	该文利用场发射显微镜对单壁碳纳米管的逸出功进行了研究和测量.未进行加热除气的单壁碳纳米管的表面吸附大量气体,此时测量的逸出功不是清洁表面单壁碳纳米管的逸出功.实验首先加热除气得到单壁碳纳米管的场发射清洁像,然后利用场发射显微镜测量I-V曲线,得到Fowler-Nordheim直线斜率;再利用透射电镜观测单壁碳纳米管微束形貌像,测量管束半径,通过三种公式估算比例因子β,最后计算得到单壁碳纳米管的逸出功.; 国家自然科学基金; 国家重点基础研究发展计划(973计划); 教育部科学技术研究项目; 中国科学引文数据库(CSCD); 0; 11; 1708-1713; 24
语种	中文
出处	万方 ; 知网 ; http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_dzkxxk200211042.aspx
出版者	电子与信息学报
内容类型	其他
源URL	[http://hdl.handle.net/20.500.11897/22874]
专题	化学与分子工程学院 信息科学技术学院
推荐引用方式 GB/T 7714	张兆祥,孙建平,侯士敏,等. 用场发射显微镜测量单壁碳纳米管的逸出功, FIELD EMISSION MICROSCOPY STUDY OF THE WORK FUNCTION OF SINGLE-WALLED CARBON NANOTUBES. 2002-01-01.

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