一种生长AlInN单晶外延膜的方法; 一种生长AlInN单晶外延膜的方法
张书明
专利国别中国
专利号CN200810225783.8
专利类型发明
权利人中国科学院半导体研究所
中文摘要本发明公开了一种用氮气、氢气混合气作为载气生长高质量AlInN单晶外延膜的方法,包括如下步骤:选择一衬底;将衬底放入金属有机物化学气相沉积系统内,升温至生长温度,同时通入三甲基铟TMIn、三甲基铝TMAl、氨气NH3,氮气N2和适量氢气H2,生长出AlInN单晶外延膜。利用本发明,可以提高AlInN的结晶质量,并改善其表面形貌,提高其表面的平整度。
公开日期2011-08-30
语种中文
专利申请号CN200810225783.8
专利代理周国城
内容类型专利
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22081]  
专题半导体研究所_集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
张书明. 一种生长AlInN单晶外延膜的方法, 一种生长AlInN单晶外延膜的方法. CN200810225783.8.
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