GaN基光电子器件表面粗化的制作方法; GaN基光电子器件表面粗化的制作方法
张书明
专利国别中国
专利号CN200910237781.5
专利类型发明
权利人中国科学院半导体研究所
中文摘要本发明一种GaN基光电子器件表面粗化的制作方法,包括:步骤1:取一衬底;步骤2:在该衬底上依次外延生长n型层、i型层及p型层;步骤3:利用纳米加工技术,在p型层上加工形成纳米柱阵列;步骤4:在该纳米柱阵列上外延生长p型表面粗化层。
公开日期2011-08-30
语种中文
专利申请号CN200910237781.5
专利代理汤保平
内容类型专利
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22005]  
专题半导体研究所_集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
张书明. GaN基光电子器件表面粗化的制作方法, GaN基光电子器件表面粗化的制作方法. CN200910237781.5.
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