GaN基光电子器件表面粗化的制作方法; GaN基光电子器件表面粗化的制作方法 | |
张书明![]() | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN200910237781.5 |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院半导体研究所 |
中文摘要 | 本发明一种GaN基光电子器件表面粗化的制作方法,包括:步骤1:取一衬底;步骤2:在该衬底上依次外延生长n型层、i型层及p型层;步骤3:利用纳米加工技术,在p型层上加工形成纳米柱阵列;步骤4:在该纳米柱阵列上外延生长p型表面粗化层。 |
公开日期 | 2011-08-30 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN200910237781.5 |
专利代理 | 汤保平 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22005] ![]() |
专题 | 半导体研究所_集成光电子学国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张书明. GaN基光电子器件表面粗化的制作方法, GaN基光电子器件表面粗化的制作方法. CN200910237781.5. |
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