光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统 | |
赵怀学; 周艳; 田留德; 赵建科; 薛勋; 潘亮; 胡丹丹; 刘艺宁; 张洁; 曹昆 | |
2018-09-20 | |
著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
专利号 | CN201811100735.6 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
产权排序 | 1 |
英文摘要 | 本发明涉及光学系统变形量测试领域,具体涉及一种光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统。系统仅由目标模拟器及夹持机构组成,测试时,将目标模拟器通过夹持机构固定在待测光电经纬仪上,每调整一次光电经纬仪的俯仰角度,记录一次目标脱靶量,最后通过最小二乘法拟合光电经纬仪指向精度系统误差修正曲线,旨在实现光电经纬仪在不同俯仰角下,光学系统方位和俯仰方向变形量的连续采样和高精度测量,提高光电经纬仪指向精度。 |
公开日期 | 2019-01-11 |
申请日期 | 2018-09-20 |
语种 | 中文 |
状态 | 申请中 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31779] |
专题 | 西安光学精密机械研究所_检测技术研究中心 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵怀学,周艳,田留德,等. 光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统. CN201811100735.6. 2018-09-20. |
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