一种基于宇宙射线的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法
冯婕; 李豫东; 文林; 于新; 张兴尧; 郭旗
2017-10-20
著作权人中国科学院新疆理化技术研究所
文献子类发明专利
英文摘要

本发明涉及一种基于宇宙射线的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法,该方法通过对同一天在轨暗场测试采集到的十幅图进行统计,得到十幅图中宇宙射线轨迹总数,然后统计每条宇宙射线轨迹在图像上经过的列数,找出每条宇宙射线轨迹中灰度值最大的像素,以该像素为中心像素,其上下左右各个方向上的像素灰度值逐渐降低,寻找各方向上像素的灰度值介于图像背景灰度值的1.5倍和中心像素灰度值之间的所有像素即为宇宙射线信号源覆盖的像素。通过计算宇宙射线轨迹上所有像素的平均灰度值、宇宙射线上方信号源像素的灰度值总和以及宇宙射线下方信号源像素的灰度值总和,计算出总的电荷转移损失率,以此求出基于该条宇宙射线的电荷耦合器件的单次电荷转移效率。本发明实时性强,方法简单,计算结果准确。

申请日期2017-06-28
内容类型专利
源URL[http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/6449]  
专题固体辐射物理研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
冯婕,李豫东,文林,等. 一种基于宇宙射线的电荷耦合器件电荷转移效率在轨测试方法. 2017-10-20.
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