激光模拟瞬态剂量率闩锁效应电流特征机制研究 | |
陈钱; 马英起; 陈睿; 朱翔; 李悦; 韩建伟 | |
刊名 | 物理学报 |
2019 | |
卷号 | 68期号:12页码:124202 |
关键词 | 瞬态剂量率效应 闩锁效应 脉冲激光 |
ISSN号 | 1000-3290 |
DOI | 10.7498/aps.68.20190237 |
其他题名 | Characteristics of latch-up current of dose rate effect by laser simulation |
英文摘要 | 互补金属氧化物半导体(complementary metal oxide semiconductor,CMOS)工艺集成电路由于寄生的PNPN结构使其可能会受到闩锁效应的影响,在全局辐照下由瞬态剂量率效应诱发的闩锁具有独特的性能.本文利用激光模拟瞬态剂量率效应装置,针对体硅CMOS工艺解串器FIN1218MTDX,进行瞬态剂量率闩锁效应的实验研究,探究其闩锁阈值和闩锁电流特征.实验获得了该器件在3.3 V工作电压时的瞬态剂量率闩锁阈值光功率密度为(8.5 ±1.2)×104 W/cm2;并发现在工作电压3.3和3.6 V,光功率密度1.9×106-1.6×107 W/cm2的辐照下,闩锁电流发生了明显的降低,即出现了闩锁电流的"窗口现象".基于闩锁等效电路模型,利用多路径闩锁机制,构建HSPICE模型对激光实验暴露出的瞬态剂量率闩锁特征进行了机理分析.结果表明:激光实验中闩锁电流波动是由于多路径闩锁机制所致,其会在特定电路结构中促使器件的闩锁路径发生切换,从而诱发这一现象. |
语种 | 中文 |
CSCD记录号 | CSCD:6529107 |
内容类型 | 期刊论文 |
源URL | [http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/7076] |
专题 | 国家空间科学中心_空间技术部 |
通讯作者 | 韩建伟 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈钱,马英起,陈睿,等. 激光模拟瞬态剂量率闩锁效应电流特征机制研究[J]. 物理学报,2019,68(12):124202. |
APA | 陈钱,马英起,陈睿,朱翔,李悦,&韩建伟.(2019).激光模拟瞬态剂量率闩锁效应电流特征机制研究.物理学报,68(12),124202. |
MLA | 陈钱,et al."激光模拟瞬态剂量率闩锁效应电流特征机制研究".物理学报 68.12(2019):124202. |
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