高能电子穿透航天器并在其内部沉积电荷从而引发深层充电效应，是导致卫星故障的重要因素之一.为了评估深层充电效应诱发卫星异常的风险，本文基于贝叶斯方法，使用一颗地球同步轨道卫星的异常数据和GOES-8卫星的电子通量探测数据，计算了不同能量阈值及累积时间的电子注量、不同卫星配置下模拟仿真的沉积电荷，并分别与卫星异常建立一系列概率风险模型.本文从模型中随机抽样得到模拟异常，并与实测异常构造混淆矩阵以评估模型拟合优度，结果表明>1.0 MeV电子3日累积注量-卫星异常概率风险模型为该卫星最优模型.本文利用最优模型对该卫星深层充电效应风险进行了计算，在>1.0 MeV电子3日累积注量达到2.0×1010cm-2·sr-1时，该卫星发生深层充电异常的平均后验概率为27%，且95%最小可信值为22%.根据最优模型，我们对该卫星最可能导致异常的部件的材料和结构等特征做出了推断.