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	碲镉汞物理与化学钝化界面的AES研究
	史伟民[1]; 李冬梅[2]; 钱永彪[3]; 居建华[4]; 王林军[5]; 闵嘉华[6]; 桑文斌[7]; 吴汶海[8]
刊名	红外与毫米波学报
	2002
卷号	21页码:23-27
关键词	HgCdTe 表面钝化 界面
ISSN号	1001-9014
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2416308
专题	上海大学
作者单位	[1]上海大学材料科学与工程学院,上海,201800[2]上海大学材料科学与工程学院,上海,201800[3]上海大学材料科学与工程学院,上海,201800[4]上海大学材料科学与工程学院,上海,201800[5]上海大学材料科学与工程学院,上海,201800[6]上海大学材料科学与工程学院,上海,201800[7]上海大学材料科学与工程学院,上海,201800[8]上海大学材料科学与工程学院,上海,201800
推荐引用方式 GB/T 7714	史伟民[1],李冬梅[2],钱永彪[3],等. 碲镉汞物理与化学钝化界面的AES研究[J]. 红外与毫米波学报,2002,21:23-27.
APA	史伟民[1].,李冬梅[2].,钱永彪[3].,居建华[4].,王林军[5].,...&吴汶海[8].(2002).碲镉汞物理与化学钝化界面的AES研究.红外与毫米波学报,21,23-27.
MLA	史伟民[1],et al."碲镉汞物理与化学钝化界面的AES研究".红外与毫米波学报 21(2002):23-27.

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