CORC  > 上海大学
晶粒尺寸对CVD金刚石膜电学特性的影响
崔江涛[1]; 王林军[2]; 苏青峰[3]; 阮建锋[4]; 蒋丽雯[5]; 史伟民[6]; 夏义本[7]
刊名功能材料与器件学报
2006
卷号12页码:275-279
关键词金刚石膜 电学特性 晶粒尺寸
ISSN号1007-4252
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内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2394138
专题上海大学
作者单位[1] 上海大学材料科学与工程学院, 上海 200072, 中国[2] 上海大学材料科学与工程学院, 上海 200072, 中国[3] 上海大学材料科学与工程学院, 上海 200072, 中国[4] 上海大学材料科学与工程学院, 上海 200072, 中国[5] 上海大学材料科学与工程学院, 上海 200072, 中国[6] 上海大学材料科学与工程学院, 上海 200072, 中国[7] 上海大学材料科学与工程学院, 上海 200072, 中国
推荐引用方式
GB/T 7714
崔江涛[1],王林军[2],苏青峰[3],等. 晶粒尺寸对CVD金刚石膜电学特性的影响[J]. 功能材料与器件学报,2006,12:275-279.
APA 崔江涛[1].,王林军[2].,苏青峰[3].,阮建锋[4].,蒋丽雯[5].,...&夏义本[7].(2006).晶粒尺寸对CVD金刚石膜电学特性的影响.功能材料与器件学报,12,275-279.
MLA 崔江涛[1],et al."晶粒尺寸对CVD金刚石膜电学特性的影响".功能材料与器件学报 12(2006):275-279.
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