| Cd、In气氛下退火对Cd_(0.9)Zn_(0.1)Te性能的影响(英文) | |
| 刘洪涛[1]; 桑文斌[2]; 詹峰[3]; 李万万[4]; 李刚[5]; 闽嘉华[6] | |
| 2006 | |
| 会议名称 | 2006年全国功能材料学术年会 |
| 关键词 | CdZnTe 退火 电阻率 扩散系数 |
| 页码 | 4 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2393285 |
| 专题 | 上海大学 |
| 作者单位 | [1]上海大学延长校区电子信息材料系[2]上海大学延长校区电子信息材料系[3]上海大学延长校区电子信息材料系[4]上海大学延长校区电子信息材料系[5]上海大学延长校区电子信息材料系[6]上海大学延长校区电子信息材料系 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘洪涛[1],桑文斌[2],詹峰[3],等. Cd、In气氛下退火对Cd_(0.9)Zn_(0.1)Te性能的影响(英文)[C]. 见:2006年全国功能材料学术年会. |
| 个性服务 |
| 查看访问统计 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论