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	Multi-clock SOC Test schedule based on TWC&S
	Zhang Jinyi[1]; Jiang Yanhui[2]; Lin Feng[3]; Wang Jia[4]; Sun Yan[5]
	2008
会议名称	2008 INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONIC PACKAGING TECHNOLOGY & HIGH DENSITY PACKAGING, VOLS 1 AND 2
会议日期	2008-07-28
关键词	multi-clock SOC wrapper optimization TAM optimization co-optimization scheduling
页码	415-418
URL标识	查看原文
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2346253
专题	上海大学
作者单位	1.Shanghai Univ, Minist Educ, Key Lab Adv Displays & Syst Applicat, Shanghai 200072, Peoples R China. 2.Shanghai Univ, Minist Educ, Key Lab Adv Displays & Syst Applicat, 149 Yanchang Rd, Shanghai 200072, Peoples R China.
推荐引用方式 GB/T 7714	Zhang Jinyi[1],Jiang Yanhui[2],Lin Feng[3],et al. Multi-clock SOC Test schedule based on TWC&S[C]. 见:2008 INTERNATIONAL CONFERENCE ON ELECTRONIC PACKAGING TECHNOLOGY & HIGH DENSITY PACKAGING, VOLS 1 AND 2. 2008-07-28.

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