CORC  > 上海大学
叠烧对ZnO压敏电阻中Bi2O3挥发的控制
吴振红[1]; 方建慧[2]; 徐东[3]; 巫欣欣[4]; 施利毅[5]
刊名电子元件与材料
2009
卷号28页码:7-9
关键词ZnO压敏电阻 叠烧 电性能
ISSN号1001-2028
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内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2321640
专题上海大学
作者单位1.[1]上海大学,纳米科学与技术研究中心,上海,200444[2]上海大学,理学院,上海,200444[3]上海大学,材料科学与工程学院,上海,200072[4]上海大学,理学院,上海,200444[5]上海大学,纳米科学与技术研究中心,上海,200444
2.上海大学,材料科学与工程学院,上海,200072
推荐引用方式
GB/T 7714
吴振红[1],方建慧[2],徐东[3],等. 叠烧对ZnO压敏电阻中Bi2O3挥发的控制[J]. 电子元件与材料,2009,28:7-9.
APA 吴振红[1],方建慧[2],徐东[3],巫欣欣[4],&施利毅[5].(2009).叠烧对ZnO压敏电阻中Bi2O3挥发的控制.电子元件与材料,28,7-9.
MLA 吴振红[1],et al."叠烧对ZnO压敏电阻中Bi2O3挥发的控制".电子元件与材料 28(2009):7-9.
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