| 重采样图像的盲检测技术 | |
| 姚恒[1]; 魏为民[2]; 唐振军[3] | |
| 刊名 | 计算机工程与应用
 |
| 2010 | |
| 卷号 | 46页码:166-168,187 |
| 关键词 | 数字取证 图像插值 篡改检测 被动认证 |
| ISSN号 | 1002-8331 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2311645 |
| 专题 | 上海大学 |
| 作者单位 | [1]上海大学,通信与信息工程学院,上海200072[2]上海大学,通信与信息工程学院,上海200072[3]上海大学,通信与信息工程学院,上海200072 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 姚恒[1],魏为民[2],唐振军[3]. 重采样图像的盲检测技术[J]. 计算机工程与应用,2010,46:166-168,187. |
| APA | 姚恒[1],魏为民[2],&唐振军[3].(2010).重采样图像的盲检测技术.计算机工程与应用,46,166-168,187. |
| MLA | 姚恒[1],et al."重采样图像的盲检测技术".计算机工程与应用 46(2010):166-168,187. |
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