| 利用EBSD技术分析低应变量形变显微组织 | |
| 刘廷光[1]; 夏爽[2]; 茹祥坤[3]; 杨辉辉[4]; 李慧[5]; 白琴[6] | |
| 刊名 | 电子显微学报
 |
| 2011 | |
| 卷号 | 30页码:408-413 |
| 关键词 | 电子背散射衍射 形变显微组织 局部取向梯度 取向离均差 |
| ISSN号 | 1000-6281 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2308291 |
| 专题 | 上海大学 |
| 作者单位 | [1]上海大学材料研究所[2]上海大学材料研究所[3]上海大学材料研究所[4]上海大学材料研究所[5]上海大学材料研究所[6]上海大学材料研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘廷光[1],夏爽[2],茹祥坤[3],等. 利用EBSD技术分析低应变量形变显微组织[J]. 电子显微学报,2011,30:408-413. |
| APA | 刘廷光[1],夏爽[2],茹祥坤[3],杨辉辉[4],李慧[5],&白琴[6].(2011).利用EBSD技术分析低应变量形变显微组织.电子显微学报,30,408-413. |
| MLA | 刘廷光[1],et al."利用EBSD技术分析低应变量形变显微组织".电子显微学报 30(2011):408-413. |
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