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	垂直Bridgman法生长Cd1-XMnxTe晶体的缺陷研究
	Shi, Ling-Yun[1]; Zhang, Ji-Jun[2]; Wang, Lin-Jun[3]; Huang, Jian[4]; Tang, Ke[5]; Peng, Lan[6]
刊名	人工晶体学报
	2011
卷号	40页码:543-547,551
关键词	位错 Te夹杂相 孪晶 红外透过率
ISSN号	1000-985X
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2307003
专题	上海大学
作者单位	[1]School of Materials Science and Engineering, Shanghai University, Shanghai 200072, China[2]School of Materials Science and Engineering, Shanghai University, Shanghai 200072, China[3]School of Materials Science and Engineering, Shanghai University, Shanghai 200072, China[4]School of Materials Science and Engineering, Shanghai University, Shanghai 200072, China[5]School of Materials Science and Engineering, Shanghai University, Shanghai 200072, China[6]School of Materials Science and Engineering, Shanghai University, Shanghai 200072, China
推荐引用方式 GB/T 7714	Shi, Ling-Yun[1],Zhang, Ji-Jun[2],Wang, Lin-Jun[3],等. 垂直Bridgman法生长Cd1-XMnxTe晶体的缺陷研究[J]. 人工晶体学报,2011,40:543-547,551.
APA	Shi, Ling-Yun[1],Zhang, Ji-Jun[2],Wang, Lin-Jun[3],Huang, Jian[4],Tang, Ke[5],&Peng, Lan[6].(2011).垂直Bridgman法生长Cd1-XMnxTe晶体的缺陷研究.人工晶体学报,40,543-547,551.
MLA	Shi, Ling-Yun[1],et al."垂直Bridgman法生长Cd1-XMnxTe晶体的缺陷研究".人工晶体学报 40(2011):543-547,551.

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