| 通过加速老化实验对LED器件可靠性的研究 | |
| 陈宇[1]; 黄帆[2]; 严华锋[3]; 殷录桥[4]; 张建华[5]; 李志君[6] | |
| 2011 | |
| 会议名称 | 2011绿色照明与科学发展科技研讨会暨第四届中日韩照明大会 |
| 会议日期 | 2011-09-22 |
| 关键词 | 老化实验 LED器件 可靠性 |
| 页码 | 234-240 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 会议论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2301873 |
| 专题 | 上海大学 |
| 作者单位 | [1]上海亚明灯泡厂有限公司[2]上海大学 机电工程与自动化学院[3]上海亚明灯泡厂有限公司[4]上海大学 机电工程与自动化学院[5]上海大学 机电工程与自动化学院[6]上海亚明灯泡厂有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈宇[1],黄帆[2],严华锋[3],等. 通过加速老化实验对LED器件可靠性的研究[C]. 见:2011绿色照明与科学发展科技研讨会暨第四届中日韩照明大会. 2011-09-22. |
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