| 超高真空扫描隧道谱实验对碲镉汞室温带隙的直接测定 | |
| Ren Xiu-Rong[1]; Zha Fang-Xing[2] | |
| 刊名 | 红外与毫米波学报
 |
| 2013 | |
| 卷号 | 32页码:145-149 |
| 关键词 | 碲镉汞 扫描隧道显微镜 扫描隧道谱 能带带隙 锁相放大技术 |
| ISSN号 | 1001-9014 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2287251 |
| 专题 | 上海大学 |
| 作者单位 | 1.[1]Shanghai Univ, Dept Phys, Shanghai 200444, Peoples R China.,Shanghai Univ, Lab Microstruct, Shanghai 200444, Peoples R China. 2.[2]Shanghai Univ, Dept Phys, Shanghai 200444, Peoples R China.,Shanghai Univ, Lab Microstruct, Shanghai 200444, Peoples R China. 3.Chinese Acad Sci, Shanghai Inst Tech Phys, Natl Lab Infrared Phys, Shanghai 200083, Peoples R China. |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Ren Xiu-Rong[1],Zha Fang-Xing[2]. 超高真空扫描隧道谱实验对碲镉汞室温带隙的直接测定[J]. 红外与毫米波学报,2013,32:145-149. |
| APA | Ren Xiu-Rong[1],&Zha Fang-Xing[2].(2013).超高真空扫描隧道谱实验对碲镉汞室温带隙的直接测定.红外与毫米波学报,32,145-149. |
| MLA | Ren Xiu-Rong[1],et al."超高真空扫描隧道谱实验对碲镉汞室温带隙的直接测定".红外与毫米波学报 32(2013):145-149. |
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