一种反射镜高反射率的测量方法; 一种反射镜高反射率的测量方法
解金春 ; 盛新志 ; 孙福革 ; 戴东旭 ; 沙国河
2000-01-26
专利国别中国
专利号CN98114152.8
专利类型发明
关键词物理化学
权利人中国科学院大连化学物理研究所
中文摘要一种反射镜高反射率的测量方法,包括下述测量步骤:(1)以两个高反射镜组成稳定的光学谐振腔,激光脉冲从一端注入后,在腔镜之间来回反射形成振荡,测量衰荡寿命τ-;(2)保持腔长不变,把待测镜作为折叠镜引入上述直衰荡光腔,形成稳定的折叠衰荡光腔,测出衰荡时间τ<;(3)由下述公式计算得到待测镜反射率RX∶RX=exp[L/C(1/τ--;1/τ<)];其中,L腔长,C光速。本发明测试过程简单,测量精度高。
是否PCT专利
学科主题物理化学
公开日期2000-01-26 ; 2011-07-11
申请日期1998-07-16
语种中文
资助信息待填写
专利证书号带填写
专利申请号CN98114152.8
专利代理张晨
内容类型专利
源URL[http://159.226.238.44/handle/321008/110463]  
专题大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
解金春,盛新志,孙福革,等. 一种反射镜高反射率的测量方法, 一种反射镜高反射率的测量方法. CN98114152.8. 2000-01-26.
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