一种反射镜高反射率的测量方法; 一种反射镜高反射率的测量方法 | |
解金春 ; 盛新志 ; 孙福革 ; 戴东旭 ; 沙国河 | |
2000-01-26 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN98114152.8 |
专利类型 | 发明 |
关键词 | 物理化学 |
权利人 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
中文摘要 | 一种反射镜高反射率的测量方法,包括下述测量步骤:(1)以两个高反射镜组成稳定的光学谐振腔,激光脉冲从一端注入后,在腔镜之间来回反射形成振荡,测量衰荡寿命τ-;(2)保持腔长不变,把待测镜作为折叠镜引入上述直衰荡光腔,形成稳定的折叠衰荡光腔,测出衰荡时间τ<;(3)由下述公式计算得到待测镜反射率RX∶RX=exp[L/C(1/τ--;1/τ<)];其中,L腔长,C光速。本发明测试过程简单,测量精度高。 |
是否PCT专利 | 是 |
学科主题 | 物理化学 |
公开日期 | 2000-01-26 ; 2011-07-11 |
申请日期 | 1998-07-16 |
语种 | 中文 |
资助信息 | 待填写 |
专利证书号 | 带填写 |
专利申请号 | CN98114152.8 |
专利代理 | 张晨 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://159.226.238.44/handle/321008/110463] ![]() |
专题 | 大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 解金春,盛新志,孙福革,等. 一种反射镜高反射率的测量方法, 一种反射镜高反射率的测量方法. CN98114152.8. 2000-01-26. |
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