测量发光粒子绝对浓度装置; 测量发光粒子绝对浓度装置 | |
多丽萍 ; 崔铁基 ; 李国富 ; 闵祥德 ; 王增强 ; 李健 | |
2001-08-08 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN00210220.X |
专利类型 | 实用新型 |
关键词 | 物理化学 |
权利人 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
中文摘要 | 一种测量发光粒子绝对浓度装置。由以下部件组成:一光池,用两个石英窗口A、B封闭,与压力计相连,石英窗口B与准直管一端连接;一活塞式均匀圆盘光源,置于光池中;一透镜,安放于准直管的另一端,与固定在探测器前方的过滤片立式相对放置;一斩波器,位于所述过滤片前方;一锁相放大器,其输入端分别接斩波器和探测器的输出端,其输出信号至计算机。它能测量所有的气或液态(体)的发光粒子的绝对浓度,简单方便,可实时测量。 |
是否PCT专利 | 是 |
学科主题 | 物理化学 |
公开日期 | 2001-08-08 ; 2011-07-11 |
申请日期 | 2000-09-06 |
语种 | 中文 |
资助信息 | 大连化物所 |
专利证书号 | 带填写 |
专利申请号 | CN00210220.X |
专利代理 | 张晨 ; 周秀梅 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://159.226.238.44/handle/321008/110229] ![]() |
专题 | 大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 多丽萍,崔铁基,李国富,等. 测量发光粒子绝对浓度装置, 测量发光粒子绝对浓度装置. CN00210220.X. 2001-08-08. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论