| 测量发光粒子绝对浓度装置; 测量发光粒子绝对浓度装置 | |
| 多丽萍 ; 崔铁基 ; 李国富 ; 闵祥德 ; 王增强 ; 李健 | |
| 2001-08-08 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | CN00210220.X |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 关键词 | 物理化学 |
| 权利人 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 中文摘要 | 一种测量发光粒子绝对浓度装置。由以下部件组成：一光池，用两个石英窗口A、B封闭，与压力计相连，石英窗口B与准直管一端连接；一活塞式均匀圆盘光源，置于光池中；一透镜，安放于准直管的另一端，与固定在探测器前方的过滤片立式相对放置；一斩波器，位于所述过滤片前方；一锁相放大器，其输入端分别接斩波器和探测器的输出端，其输出信号至计算机。它能测量所有的气或液态(体)的发光粒子的绝对浓度，简单方便，可实时测量。 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 学科主题 | 物理化学 |
| 公开日期 | 2001-08-08 ; 2011-07-11 |
| 申请日期 | 2000-09-06 |
| 语种 | 中文 |
| 资助信息 | 大连化物所 |
| 专利证书号 | 带填写 |
| 专利申请号 | CN00210220.X |
| 专利代理 | 张晨 ; 周秀梅 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://159.226.238.44/handle/321008/110229]  |
| 专题 | 大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 多丽萍,崔铁基,李国富,等. 测量发光粒子绝对浓度装置, 测量发光粒子绝对浓度装置. CN00210220.X. 2001-08-08. |
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