大口径光学元件中低频面形快速检测装置和方法 | |
武欣[1]; 于瀛洁[2]; 王伟荣[3]; 张小强[4]; 许海峰[5] | |
2014 | |
权利人 | 上海大学 |
URL标识 | 查看原文 |
申请日期 | 2014-11-05 |
内容类型 | 专利 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2275656 |
专题 | 上海大学 |
作者单位 | 上海大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 武欣[1],于瀛洁[2],王伟荣[3],等. 大口径光学元件中低频面形快速检测装置和方法. 2014-01-01. |
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