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	辐射环境中电子元器件的抗辐射性能对比实验系统和方法
	罗均[1]; 颜春明[2]; 蒲华燕[3]; 刘恒利[4]; 张娟[5]; 瞿栋[6]; 马捷[7]; 吴斌[8]; 谢少荣[9]
	2014
权利人	上海大学
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申请日期	2014-09-11
内容类型	专利
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2275484
专题	上海大学
作者单位	上海大学
推荐引用方式 GB/T 7714	罗均[1],颜春明[2],蒲华燕[3],等. 辐射环境中电子元器件的抗辐射性能对比实验系统和方法. 2014-01-01.

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