软性电路板金面缺陷的无监督检测 (EI收录) | |
王庆香[1,2]; 李迪[1]; 张舞杰[1]; 叶峰[1] | |
刊名 | 《光学精密工程》
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2010 | |
卷号 | 18页码:981-987 |
关键词 | 缺陷检测 GABOR滤波器 Mean Shift聚类 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2249039 |
专题 | 华南理工大学 |
作者单位 | 1.[1]华南理工大学机械与汽车工程学院,广东广州510641 2.[2]广州中医药大学信息技术学院,广东广州510006 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王庆香[1,2],李迪[1],张舞杰[1],等. 软性电路板金面缺陷的无监督检测 (EI收录)[J]. 《光学精密工程》,2010,18:981-987. |
APA | 王庆香[1,2],李迪[1],张舞杰[1],&叶峰[1].(2010).软性电路板金面缺陷的无监督检测 (EI收录).《光学精密工程》,18,981-987. |
MLA | 王庆香[1,2],et al."软性电路板金面缺陷的无监督检测 (EI收录)".《光学精密工程》 18(2010):981-987. |
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