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	SOC芯片频率测试方法
	李冬梅[1]; 王刚[2]; 黄凯翔[3]; 张方方[4]; 李杰[5]
	2015
权利人	上海大学
URL标识	查看原文
申请日期	2015-09-30
内容类型	专利
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2240066
专题	上海大学
作者单位	上海大学
推荐引用方式 GB/T 7714	李冬梅[1],王刚[2],黄凯翔[3],等. SOC芯片频率测试方法. 2015-01-01.

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