一种全集成紫外微流控芯片分析仪; 一种全集成紫外微流控芯片分析仪 | |
林炳承 ; 马 波 ; 倪春起 ; 王 昕 ; 秦建华 | |
2009-04-01 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | CN200710012937.0 |
专利类型 | 发明 |
关键词 | 物理化学 |
权利人 | 中国科学院大连化学物理研究所 ; 北京彩陆科学仪器有限公司 |
中文摘要 | 本发明提供了一种实现快速自动光学对准和阵列多通道检测的全集成紫外微流控芯片分析仪,该紫外微流控芯片分析仪由硬件和控制软件模块构成。本发明提出了一种全新的自动光学对准方法,直接利用光学原理,使用软件自动控制芯片检测通道与光路的快速自动对准;本发明首次实现了紫外微流控芯片的阵列多通道检测;用户操作简单,同时提供了强大的功能可扩展性。 |
是否PCT专利 | 是 |
学科主题 | 物理化学 |
公开日期 | 2009-04-01 ; 2011-07-11 |
申请日期 | 2007-09-24 |
语种 | 中文 |
资助信息 | 大连化物所 |
专利证书号 | 带填写 |
专利申请号 | CN200710012937.0 |
专利代理 | 张晨 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://159.226.238.44/handle/321008/107783] |
专题 | 大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 林炳承,马 波,倪春起,等. 一种全集成紫外微流控芯片分析仪, 一种全集成紫外微流控芯片分析仪. CN200710012937.0. 2009-04-01. |
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