一种全集成紫外微流控芯片分析仪; 一种全集成紫外微流控芯片分析仪
林炳承 ; 马 波 ; 倪春起 ; 王 昕 ; 秦建华
2009-04-01
专利国别中国
专利号CN200710012937.0
专利类型发明
关键词物理化学
权利人中国科学院大连化学物理研究所 ; 北京彩陆科学仪器有限公司
中文摘要本发明提供了一种实现快速自动光学对准和阵列多通道检测的全集成紫外微流控芯片分析仪,该紫外微流控芯片分析仪由硬件和控制软件模块构成。本发明提出了一种全新的自动光学对准方法,直接利用光学原理,使用软件自动控制芯片检测通道与光路的快速自动对准;本发明首次实现了紫外微流控芯片的阵列多通道检测;用户操作简单,同时提供了强大的功能可扩展性。
是否PCT专利
学科主题物理化学
公开日期2009-04-01 ; 2011-07-11
申请日期2007-09-24
语种中文
资助信息大连化物所
专利证书号带填写
专利申请号CN200710012937.0
专利代理张晨
内容类型专利
源URL[http://159.226.238.44/handle/321008/107783]  
专题大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
林炳承,马 波,倪春起,等. 一种全集成紫外微流控芯片分析仪, 一种全集成紫外微流控芯片分析仪. CN200710012937.0. 2009-04-01.
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