| 基于背景校正和图像分割定量分析光学元件表面疵病的新算法 | |
| 张博[1]; 倪开灶[2]; 王林军[3]; 刘世杰[4]; 吴伦哲[5] | |
| 刊名 | 光学学报
 |
| 2016 | |
| 页码 | 120-129 |
| 关键词 | 成像系统 表面疵病 背景校正 图像梯度 最大类间方差法 |
| ISSN号 | 0253-2239 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2229369 |
| 专题 | 上海大学 |
| 作者单位 | 1.上海大学材料科学与工程学院 2.中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张博[1],倪开灶[2],王林军[3],等. 基于背景校正和图像分割定量分析光学元件表面疵病的新算法[J]. 光学学报,2016:120-129. |
| APA | 张博[1],倪开灶[2],王林军[3],刘世杰[4],&吴伦哲[5].(2016).基于背景校正和图像分割定量分析光学元件表面疵病的新算法.光学学报,120-129. |
| MLA | 张博[1],et al."基于背景校正和图像分割定量分析光学元件表面疵病的新算法".光学学报 (2016):120-129. |
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