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	直流偏磁增大换相失败风险的机理分析及仿真 (EI收录)
	黄敏[1]; 郭倩雯[2] 童重立[2] 孙近文[2]
刊名	《华中科技大学学报：自然科学版》
	2014
卷号	42页码:102-106
关键词	特高压 直流偏磁 换相失败 电压畸变 机理分析 电磁暂态仿真
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2213171
专题	华南理工大学
作者单位	1.[1]华南理工大学电力学院,广东广州510640 2.[2]华中科技大学电气与电子工程学院,湖北武汉430074
推荐引用方式 GB/T 7714	黄敏[1],郭倩雯[2] 童重立[2] 孙近文[2]. 直流偏磁增大换相失败风险的机理分析及仿真 (EI收录)[J]. 《华中科技大学学报：自然科学版》,2014,42:102-106.
APA	黄敏[1],&郭倩雯[2] 童重立[2] 孙近文[2].(2014).直流偏磁增大换相失败风险的机理分析及仿真 (EI收录).《华中科技大学学报：自然科学版》,42,102-106.
MLA	黄敏[1],et al."直流偏磁增大换相失败风险的机理分析及仿真 (EI收录)".《华中科技大学学报：自然科学版》 42(2014):102-106.

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