直流偏磁增大换相失败风险的机理分析及仿真 (EI收录) | |
黄敏[1]; 郭倩雯[2] 童重立[2] 孙近文[2] | |
刊名 | 《华中科技大学学报:自然科学版》
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2014 | |
卷号 | 42页码:102-106 |
关键词 | 特高压 直流偏磁 换相失败 电压畸变 机理分析 电磁暂态仿真 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2213171 |
专题 | 华南理工大学 |
作者单位 | 1.[1]华南理工大学电力学院,广东广州510640 2.[2]华中科技大学电气与电子工程学院,湖北武汉430074 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 黄敏[1],郭倩雯[2] 童重立[2] 孙近文[2]. 直流偏磁增大换相失败风险的机理分析及仿真 (EI收录)[J]. 《华中科技大学学报:自然科学版》,2014,42:102-106. |
APA | 黄敏[1],&郭倩雯[2] 童重立[2] 孙近文[2].(2014).直流偏磁增大换相失败风险的机理分析及仿真 (EI收录).《华中科技大学学报:自然科学版》,42,102-106. |
MLA | 黄敏[1],et al."直流偏磁增大换相失败风险的机理分析及仿真 (EI收录)".《华中科技大学学报:自然科学版》 42(2014):102-106. |
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