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	Spectrally encoded confocal microscopy at 1.9 μm (EI收录SCI收录)
	Tan, Sisi[1]; Wei, Xiaoming[1]; Xu, Shanhui[2]; Yang, Zhongmin[2]; Li, Bowen[1]; Wong, Kenneth K.Y.[1]
刊名	IEEE Photonics Technology Letters
	2016
卷号	28页码:201-204
关键词	Infrared lasers Nonlinear optics Supercontinuum generation
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2195949
专题	华南理工大学
作者单位	1.[1] Department of Electrical and Electronic Engineering, University of Hong Kong, Hong Kong 2.[2] State Key Laboratory of Luminescent Materials and Devices, Institute of Optical Communication Materials, South China University of Technology, Guangzhou 3.510641, China
推荐引用方式 GB/T 7714	Tan, Sisi[1],Wei, Xiaoming[1],Xu, Shanhui[2],等. Spectrally encoded confocal microscopy at 1.9 μm (EI收录SCI收录)[J]. IEEE Photonics Technology Letters,2016,28:201-204.
APA	Tan, Sisi[1],Wei, Xiaoming[1],Xu, Shanhui[2],Yang, Zhongmin[2],Li, Bowen[1],&Wong, Kenneth K.Y.[1].(2016).Spectrally encoded confocal microscopy at 1.9 μm (EI收录SCI收录).IEEE Photonics Technology Letters,28,201-204.
MLA	Tan, Sisi[1],et al."Spectrally encoded confocal microscopy at 1.9 μm (EI收录SCI收录)".IEEE Photonics Technology Letters 28(2016):201-204.

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