CORC  > 上海大学
X射线衍射法测定圆棒表面残余应力的影响因素
王晓宇[1]; 任丽萍[2]; 徐星泓[3]; 吉静[4]; 吴益文[5]
刊名理化检验-物理分册
2017
卷号53页码:470-473,523
关键词圆棒 表面残余应力 X射线衍射 影响因素
ISSN号1001-4012
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内容类型期刊论文
URI标识http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2187859
专题上海大学
作者单位1.上海大学 材料科学与工程学院,上海,200072
2.上海出入境检验检疫局,上海,200135
3.上海大学 材料科学与工程学院, 上海 200072
4.上海出入境检验检疫局, 上海 200135
推荐引用方式
GB/T 7714
王晓宇[1],任丽萍[2],徐星泓[3],等. X射线衍射法测定圆棒表面残余应力的影响因素[J]. 理化检验-物理分册,2017,53:470-473,523.
APA 王晓宇[1],任丽萍[2],徐星泓[3],吉静[4],&吴益文[5].(2017).X射线衍射法测定圆棒表面残余应力的影响因素.理化检验-物理分册,53,470-473,523.
MLA 王晓宇[1],et al."X射线衍射法测定圆棒表面残余应力的影响因素".理化检验-物理分册 53(2017):470-473,523.
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