| 氢化非晶硅薄膜晶体管的低频噪声特性 | |
| 刘远[1,2] 何红宇[3,4]; 陈荣盛[2]; 李斌[2]; 恩云飞[1]; 陈义强[1] | |
| 刊名 | 《物理学报》
 |
| 2017 | |
| 卷号 | 66页码:254-261 |
| 关键词 | 非晶硅 薄膜晶体管 低频噪声 局域态密度 |
| URL标识 | 查看原文 |
| 内容类型 | 期刊论文 |
| URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2180781 |
| 专题 | 华南理工大学 |
| 作者单位 | 1.[1]工业和信息化部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术国家重点实验室,广州510610 2.[2]华南理工大学微电子学院,广州510640 3.[3]北京大学深圳研究生院信息工程学院,深圳518005 4.[4]南华大学电气工程学院,衡阳421001 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘远[1,2] 何红宇[3,4],陈荣盛[2],李斌[2],等. 氢化非晶硅薄膜晶体管的低频噪声特性[J]. 《物理学报》,2017,66:254-261. |
| APA | 刘远[1,2] 何红宇[3,4],陈荣盛[2],李斌[2],恩云飞[1],&陈义强[1].(2017).氢化非晶硅薄膜晶体管的低频噪声特性.《物理学报》,66,254-261. |
| MLA | 刘远[1,2] 何红宇[3,4],et al."氢化非晶硅薄膜晶体管的低频噪声特性".《物理学报》 66(2017):254-261. |
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