基于形态学的点阵液晶屏缺陷检测方法的研究 | |
蒋莉[1]; 严军[2]; 孟伟[3]; 赵勇[4]; 范欢欢[5] | |
刊名 | 电子测量技术 |
2018 | |
页码 | 98-101 |
关键词 | 点阵液晶屏 缺陷检测 轮廓提取 凸性分析 开闭运算 |
ISSN号 | 1002-7300 |
URL标识 | 查看原文 |
内容类型 | 期刊论文 |
URI标识 | http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2172308 |
专题 | 上海大学 |
作者单位 | [1]上海大学通信与信息工程学院[2]上海大学通信与信息工程学院[3]上海大学通信与信息工程学院[4]上海大学通信与信息工程学院[5]上海大学通信与信息工程学院 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 蒋莉[1],严军[2],孟伟[3],等. 基于形态学的点阵液晶屏缺陷检测方法的研究[J]. 电子测量技术,2018:98-101. |
APA | 蒋莉[1],严军[2],孟伟[3],赵勇[4],&范欢欢[5].(2018).基于形态学的点阵液晶屏缺陷检测方法的研究.电子测量技术,98-101. |
MLA | 蒋莉[1],et al."基于形态学的点阵液晶屏缺陷检测方法的研究".电子测量技术 (2018):98-101. |
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