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	超大规模FPGA的单粒子效应脉冲激光测试方法
	刘宇翔[1,2]; 张战刚[1]; 杨凯歌[1]; 雷志锋[1]; 黄云[1]; 恩云飞[1]
刊名	《微电子学》
	2018
卷号	48页码:548-554
关键词	FPGA 单粒子效应 脉冲激光 辐照测试 单粒子翻转极性
URL标识	查看原文
内容类型	期刊论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2169715
专题	华南理工大学
作者单位	1.[1]工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室,广州510610 2.[2]华南理工大学电子与信息学院,广州510641
推荐引用方式 GB/T 7714	刘宇翔[1,2],张战刚[1],杨凯歌[1],等. 超大规模FPGA的单粒子效应脉冲激光测试方法[J]. 《微电子学》,2018,48:548-554.
APA	刘宇翔[1,2],张战刚[1],杨凯歌[1],雷志锋[1],黄云[1],&恩云飞[1].(2018).超大规模FPGA的单粒子效应脉冲激光测试方法.《微电子学》,48,548-554.
MLA	刘宇翔[1,2],et al."超大规模FPGA的单粒子效应脉冲激光测试方法".《微电子学》 48(2018):548-554.

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