一次记录式超分辨近场结构光盘; 一次记录式超分辨近场结构光盘
陈文忠 ; 吴谊群 ; 王阳 ; 顾冬红
2008-05-14
专利国别中国
专利号ZL200610028423.X
专利类型发明
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所
中文摘要一种一次记录式超分辨近场结构光盘,包括盘基、记录层,金属反射层,其特点是在所述的盘基和记录层之间还有第一保护层、掩膜层和第二保护层,所述的记录层的材料为金属偶氮鏊合物,该记录层的厚度为80-120nm;所述的第一保护层的厚度为100-180nm,第二保护层的厚度为15-30nm。本发明光盘使用红光(波长650nm)记录设备记录时,该光盘金属有机化合物记录层上记录点的尺寸较一次记录式DVD光盘记录层上记录点有效地缩小,可获得更高的存储密度。
公开日期2011-07-14 ; 2011-07-15
申请日期2006-06-30
收录类别专利
语种中文
专利申请号CN200610028423.X
内容类型专利
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9406]  
专题上海光学精密机械研究所_高密度光存储技术实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
陈文忠,吴谊群,王阳,等. 一次记录式超分辨近场结构光盘, 一次记录式超分辨近场结构光盘. ZL200610028423.X. 2008-05-14.
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