一次记录式超分辨近场结构光盘; 一次记录式超分辨近场结构光盘 | |
陈文忠 ; 吴谊群 ; 王阳 ; 顾冬红 | |
2008-05-14 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | ZL200610028423.X |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
中文摘要 | 一种一次记录式超分辨近场结构光盘,包括盘基、记录层,金属反射层,其特点是在所述的盘基和记录层之间还有第一保护层、掩膜层和第二保护层,所述的记录层的材料为金属偶氮鏊合物,该记录层的厚度为80-120nm;所述的第一保护层的厚度为100-180nm,第二保护层的厚度为15-30nm。本发明光盘使用红光(波长650nm)记录设备记录时,该光盘金属有机化合物记录层上记录点的尺寸较一次记录式DVD光盘记录层上记录点有效地缩小,可获得更高的存储密度。 |
公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
申请日期 | 2006-06-30 |
收录类别 | 专利 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN200610028423.X |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9406] ![]() |
专题 | 上海光学精密机械研究所_高密度光存储技术实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈文忠,吴谊群,王阳,等. 一次记录式超分辨近场结构光盘, 一次记录式超分辨近场结构光盘. ZL200610028423.X. 2008-05-14. |
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