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	Spreading-resistance temperature sensor on thin-film SOI (EI收录)
	Li, B.[1]; Lai, P.T.[1]; Sin, J.K.O.[1]
会议名称	Proceedings of the IEEE Hong Kong Electron Devices Meeting
会议日期	June 30, 2001
会议地点	Hong Kong, China
关键词	Electric currents Electric resistance Semiconductor doping Silicon on insulator technology Thermal effects Thin films
URL标识	查看原文
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2141268
专题	华南理工大学
作者单位	[1] Department of Applied Physics, South China University of Technology, Guangzhou, China
推荐引用方式 GB/T 7714	Li, B.[1],Lai, P.T.[1],Sin, J.K.O.[1]. Spreading-resistance temperature sensor on thin-film SOI (EI收录)[C]. 见:Proceedings of the IEEE Hong Kong Electron Devices Meeting. Hong Kong, China. June 30, 2001.

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