完全光纤探针扫描式近场光学显微镜; 完全光纤探针扫描式近场光学显微镜
周飞 ; 徐文东 ; 干福熹
2005-09-28
专利国别中国
专利号ZL200420090065.1
专利类型实用新型
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所
中文摘要一种完全光纤探针扫描式近场光学显微镜,包括激光照明系统、监视系统、样品架、光纤探针扫描机构、三维粗调装置、反馈控制及数据采集系统,基本构思是:将光纤探针固定在音叉上,通过三维扫描器,带动音叉上的光纤探针在样品表面附近进行扫描。当光纤探针逼近样品表面时,光纤探针受到来自样品表面原子剪切力的作用。这个力将改变音叉的震动,从而可以解调出探针与样品之间的距离信息。将该信息反馈给Z向控制系统,以使光纤探针到样品表面的距离保持一恒定值。这一反馈信息反映样品表面的形貌。光纤探针收集到的光的强度给出了样品的透过率。本实用
公开日期2011-07-14 ; 2011-07-15
申请日期2004-09-15
收录类别专利
语种中文
专利申请号CN200420090065.1
内容类型专利
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9378]  
专题上海光学精密机械研究所_高密度光存储技术实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
周飞,徐文东,干福熹. 完全光纤探针扫描式近场光学显微镜, 完全光纤探针扫描式近场光学显微镜. ZL200420090065.1. 2005-09-28.
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