| 光存储特性静态测试系统; 光存储特性静态测试系统 | |
| 高秀敏 ; 徐文东 ; 干福熹 ; 王阳 ; 周飞 ; 张锋 ; 杨金涛 | |
| 2006-11-22 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200410016971.1 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种光存储特性静态测试系统，包括测试和监视观察两大部分，其特征在于：该系统采用三维可编程纳米平台控制系统中的物镜进行三维移动，实现读写光点的逼近和扫描，扩大了可测样品的范围，实现了测量自动化。在信息写入和读出过程中，光点和样品可以存在慢速相对运动，从而该系统还可以进行光存储特性的准动态测试。照明光由光纤导入监视观察系统，光纤的传光效率高、柔韧性好、长度可视具体情况加工，使监视观察系统具有很好的灵活性。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2004-03-16 |
| 收录类别 | 专利 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200410016971.1 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9328]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_高密度光存储技术实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高秀敏,徐文东,干福熹,等. 光存储特性静态测试系统, 光存储特性静态测试系统. ZL200410016971.1. 2006-11-22. |
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