测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的装置; 测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的装置
薄锋 ; 朱健强 ; 康俊 ; 范微
2008-03-05
专利国别中国
专利号ZL200720067870.6
专利类型实用新型
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所
中文摘要一种测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的装置,包括一光谱仪,在光谱仪的输出光方向依次是滤光片和45°分光镜,在45°分光镜的反射光束方向同光轴地依次为起偏器、λ/4菲涅尔双菱体、待测1/4波片、检偏器、第一聚焦透镜和第一光电探测器,第一光电探测器的输出经第一运算放大电路和第一A/D转换器接计算机,在45°分光镜的透射光束方向依次为衰减片、第二聚焦透镜和第二光电探测器,第二光电探测器的输出经第二运算放大电路、第二A/D转换器接计算机,计算机的输出端分别通过第一步进马达驱动系统和第二步进马达驱动系统控制待测1
公开日期2011-07-14 ; 2011-07-15
申请日期2007-03-15
收录类别专利
语种中文
专利申请号CN200720067870.6
内容类型专利
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9202]  
专题上海光学精密机械研究所_高功率激光物理国家实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
薄锋,朱健强,康俊,等. 测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的装置, 测量1/4波片的相位延迟和快轴方向的装置. ZL200720067870.6. 2008-03-05.
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