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	光散射式尘埃粒子测量仪的光学装置; 光散射式尘埃粒子测量仪的光学装置
	黄惠杰 ; 梁春雷 ; 任冰强 ; 赵永凯 ; 程兆谷 ; 钱红斌 ; 杜龙龙
	2005-09-28
专利国别	中国
专利号	Zl200420081292.8
专利类型	实用新型
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
中文摘要	一种光散射式尘埃粒子测量仪的光学装置，包括照明系统、散射光收集系统、气路系统，其特征在于：一发出平行激光束的激光光源组件，在该激光光源组件发出的光束前进的方向上，依次设有柱面镜、球面反射镜和光陷阱，该激光光源组件输出的椭圆形光束的截面的长轴方向与柱面镜母线成一定角度φ，其角度范围在20°～80°之间；置于柱面镜右侧的球面反射镜，且光敏感区和光电探测器光敏面的位置分别在球面反射镜球心附近的两侧，并满足几何光学的物像关系；在光电探测器和光敏感区之间置有与光敏感区的形状相匹配的视场光阑；光电探测器采用高灵敏度的
公开日期	2011-07-14 ; 2011-07-15
申请日期	2004-07-30
收录类别	专利
语种	中文
专利申请号	CN200420081292.8
内容类型	专利
源URL	[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/9858]
专题	上海光学精密机械研究所_精密光电测控研究与发展中心
推荐引用方式 GB/T 7714	黄惠杰,梁春雷,任冰强,等. 光散射式尘埃粒子测量仪的光学装置, 光散射式尘埃粒子测量仪的光学装置. Zl200420081292.8. 2005-09-28.

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