| 时间分辨X射线衍射层析装置; 时间分辨X射线衍射层析装置 | |
| 陈建文 ; 高鸿奕 ; 谢红兰 ; 朱化凤 ; 李儒新 ; 徐至展 | |
| 2006-07-12 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200410017492.1 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种时间分辨X射线衍射层析装置，其特征在于它的构成为：包括飞秒激光系统，在飞秒激光系统的激光输出光路上设一半反射半透过介质膜板，在该半反射半透过介质膜板的透射光路依次为经由三块全反射介质膜板构成的光学延迟线和位于转动平台上的样品，在该半反射半透过介质膜板的反射光路上依次为全反射介质膜板、凹面反射镜、固体靶、样品、探测器，所述的凹面反射镜、固体靶、转动平台和样品同处一真空室内。本发明装置能够记录和重构三维物体的动态过程，又由于使用了光学延迟线，能够给出不同时刻的瞬态空间动力学分布，对于晶体热熔化和非热熔化无 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2004-04-06 |
| 收录类别 | 专利 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200410017492.1 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8344]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈建文,高鸿奕,谢红兰,等. 时间分辨X射线衍射层析装置, 时间分辨X射线衍射层析装置. ZL200410017492.1. 2006-07-12. |
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