| 超快过程的探测装置; 超快过程的探测装置 | |
| 贾天卿 ; 徐至展 ; 段作梁 ; 杨晓东 ; 林礼煌 ; 汪河洲 | |
| 2004-08-04 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL03228590.6 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种超快过程的探测装置，其构成和位置关系如下：光源经过第一分光镜分成透射的泵浦光和反射的探针光，该泵浦光经过脉冲展宽器件和第一延时光路系统后，被第一全反光镜反射并经第一汇聚透镜垂直照射在被测样品上，该探针光经第二全反光镜和第三全反光镜后被第二汇聚透镜聚焦到样品上，在该探针光相对于样品的反射光路上设置有第一探测器，在该探针光通过样品的透射方向设有第二探测器，所述的泵浦光的脉冲宽度经脉冲展宽器件被展宽为探针光脉冲宽度的几倍、几十倍或几百倍，所述的探针光与泵浦光共焦。本实用新型主要适用于测量半导体和透明介质等块 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2003-01-27 |
| 收录类别 | 专利 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN03228590.6 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8290]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 贾天卿,徐至展,段作梁,等. 超快过程的探测装置, 超快过程的探测装置. ZL03228590.6. 2004-08-04. |
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