原子束像面全息记录装置; 原子束像面全息记录装置 | |
陈建文 ; 高鸿奕 ; 谢红兰 ; 陈敏 ; 徐至展 | |
2004-11-10 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | ZL02111731.4 |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
中文摘要 | 一种原子束像面全息记录装置,适用于测量重力场、电磁场等能够引起原子束位相变化的物理量。包括在真空外壳内,从原子束源发射的原子束经过垂直于原子束流前进方向上并列置放的第一微波带片和第二微波带片。在第一微波带片与原子束源之间的原子束流中置放待测样品。通过待测样品和第一微波带片的物束与通过第二微波带片的参考束,在置于微波带片像面上的微通道板上产生干涉信号,并由微通道板产生电荷,通过探测器至计算机进行数字重构。与在先技术相比,本发明具有体积小、高灵敏度、高分辨率和较好的成像质量。 |
公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
申请日期 | 2002-05-17 |
收录类别 | 专利 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN02111731.4 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8216] |
专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈建文,高鸿奕,谢红兰,等. 原子束像面全息记录装置, 原子束像面全息记录装置. ZL02111731.4. 2004-11-10. |
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