X射线光电子全息图的记录装置; X射线光电子全息图的记录装置 | |
高鸿奕 ; 陈建文 ; 谢红兰 ; 徐至展 | |
2004-11-10 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | ZL02111730.6 |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
中文摘要 | 一种X射线光电子全息图的记录装置,包括在真空腔内,X射线源发射的X射线经波带片衍射聚焦,针孔光阑滤波,穿过待测样品的准单色X射线被待测样品中不透明和半透明部分散射的为物束与穿过待测样品中透明部分的参考束重叠干涉。通过光电阴极将X射线全息转换为光电子干涉场,经过加速阳极的加速和放大电磁透镜放大成像在输出连接到计算机上的接收器的接收面上。信息进入计算机内进行数据处理和图象再现。具有较高的分辨率,分辨率达到0.5nm。操作方便,可以实时快速地观测自然状态下的生物样品的三维超微结构。 |
公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
申请日期 | 2002-05-17 |
收录类别 | 专利 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN02111730.6 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8214] ![]() |
专题 | 上海光学精密机械研究所_强场激光物理国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 高鸿奕,陈建文,谢红兰,等. X射线光电子全息图的记录装置, X射线光电子全息图的记录装置. ZL02111730.6. 2004-11-10. |
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