偏振条纹扫描数字干涉仪; 偏振条纹扫描数字干涉仪
伍树东 ; 陈祥桢 ; 陶∴
1988-06-23
专利国别中国
专利号ZL85106007.2
专利类型发明
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所
中文摘要偏振条纹扫描数字干涉仪是用于光学检验的仪器,它利用起偏器,偏振小孔,四分之一波片组成的位相偏振编码器将被测的位相分布φ(x,Y)编码为不同偏振角分布φ(X,Y)/2,通过旋转检编器进行条纹扫描,其干涉图由电视摄像机接收,送入微机进行数据处理.发明还提供了利用该仪器测量透镜,球面和平面等光学元件的实用光路.该发明的特点是结构简单,操作方便,在一般环境条件下工作,可获得高精密的测量.
公开日期2011-07-14 ; 2011-07-15
申请日期1985-08-06
收录类别专利
语种中文
专利申请号CN85106007
内容类型专利
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/10344]  
专题上海光学精密机械研究所_其他
推荐引用方式
GB/T 7714
伍树东,陈祥桢,陶∴. 偏振条纹扫描数字干涉仪, 偏振条纹扫描数字干涉仪. ZL85106007.2. 1988-06-23.
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