偏振条纹扫描数字干涉仪; 偏振条纹扫描数字干涉仪 | |
伍树东 ; 陈祥桢 ; 陶∴ | |
1988-06-23 | |
专利国别 | 中国 |
专利号 | ZL85106007.2 |
专利类型 | 发明 |
权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
中文摘要 | 偏振条纹扫描数字干涉仪是用于光学检验的仪器,它利用起偏器,偏振小孔,四分之一波片组成的位相偏振编码器将被测的位相分布φ(x,Y)编码为不同偏振角分布φ(X,Y)/2,通过旋转检编器进行条纹扫描,其干涉图由电视摄像机接收,送入微机进行数据处理.发明还提供了利用该仪器测量透镜,球面和平面等光学元件的实用光路.该发明的特点是结构简单,操作方便,在一般环境条件下工作,可获得高精密的测量. |
公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
申请日期 | 1985-08-06 |
收录类别 | 专利 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN85106007 |
内容类型 | 专利 |
源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/10344] ![]() |
专题 | 上海光学精密机械研究所_其他 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 伍树东,陈祥桢,陶∴. 偏振条纹扫描数字干涉仪, 偏振条纹扫描数字干涉仪. ZL85106007.2. 1988-06-23. |
个性服务 |
查看访问统计 |
相关权益政策 |
暂无数据 |
收藏/分享 |
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。
修改评论