超快变电场的测量系统; 超快变电场的测量系统
高福源 ; 陈淑琴
1991-05-29
专利国别中国
专利号ZL87101030.5
专利类型发明
权利人中国科学院上海光学精密机械研究所 ; 陈淑琴 ; 支婷婷 ; 陈兰荣 ; 邱佩华
中文摘要本发明提供一种超快变电场的测量系统。其特征是在聚焦系统和成像系统之间放入由起偏振器、普克尔盒和检偏振器组成的电光开关。被测脉冲信号加在电光开关上。超短脉冲发射光源发射一束光脉冲作为基础光束,由同步装置控制基础光束光脉冲和被测脉冲信号在电光开关内相迂。成像在探测器接收面上的光能量分布曲线就是被测信号随时间变化的曲线。本发明的测量系统能够测量超快变电场和光脉冲随时间变化的波形、测量的时间分辩率高于10-12秒。
公开日期2011-07-14 ; 2011-07-15
申请日期1987-04-30
收录类别专利
语种中文
专利申请号CN87101030
内容类型专利
源URL[http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/10240]  
专题上海光学精密机械研究所_其他
推荐引用方式
GB/T 7714
高福源,陈淑琴. 超快变电场的测量系统, 超快变电场的测量系统. ZL87101030.5. 1991-05-29.
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