| 非圆对称光束波面测量仪; 非圆对称光束波面测量仪 | |
| 万玲玉 ; 刘立人 ; 张明丽 ; 栾竹 | |
| 2006-06-14 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | Zl200410018157.3 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种非圆对称光束波面测量仪，其特征在于它的组成是：同轴地且依次设有小孔、透镜、CCD探测器，该小孔置于透镜的前焦面，该CCD探测器安装在一刻度滑轨上并可在该刻度滑轨上移动，该CCD探测器的探测面位于透镜的后焦面时，该CCD探测器的探测面处于刻度导轨上的零刻度位置，该CCD探测器通过信号线与计算机相连。本发明具有结构简单、操作便捷，可用于半导体激光器所发光束的波面测量，亦可对任意非圆对称光束进行二维波面测量。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2004-05-09 |
| 收录类别 | 专利 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200410018157.3 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8750]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_信息光学开放实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 万玲玉,刘立人,张明丽,等. 非圆对称光束波面测量仪, 非圆对称光束波面测量仪. Zl200410018157.3. 2006-06-14. |
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