| 透镜衍射波面测量仪; 透镜衍射波面测量仪 | |
| 张明丽 ; 刘立人 ; 万玲玉 ; 章磊 ; 栾竹 | |
| 2007-10-03 | |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | ZL200310108491.3 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种透镜衍射波面测量仪，其特点在于它是由共轴设置的圆形孔径光阑、会聚透镜和CCD探测器构成，该会聚透镜的尺寸略大于圆形孔径光阑的孔径且靠近该圆形孔径光阑放置，所述的CCD探测器位于会聚透镜之后，放在可沿光轴方向移动的精密的位置调整架上，CCD探测器与计算机图像处理系统相连。本发明具有结构简单、加工便利、使用操作方便的特点，可简便地测量任一波长光波的波面像差。 |
| 公开日期 | 2011-07-14 ; 2011-07-15 |
| 申请日期 | 2003-11-07 |
| 收录类别 | 专利 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN200310108491.3 |
| 内容类型 | 专利 |
| 源URL | [http://ir.siom.ac.cn/handle/181231/8724]  |
| 专题 | 上海光学精密机械研究所_信息光学开放实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张明丽,刘立人,万玲玉,等. 透镜衍射波面测量仪, 透镜衍射波面测量仪. ZL200310108491.3. 2007-10-03. |
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