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	Study on the Communication between Single Parameter Profilometer and PC (EI收录)
	Quan, Y.M.[1]; Zhang, D.Y.[2]; He, Z.W.[1]
会议名称	Key Engineering Materials
会议日期	November 28, 2003 - November 30, 2003
会议地点	Kunming, China
关键词	Analog to digital conversion Automation Data processing Industrial plants Interfaces (computer) Profilometry Surface roughness Wear resistance
URL标识	查看原文
内容类型	会议论文
URI标识	http://www.corc.org.cn/handle/1471x/2120947
专题	华南理工大学
作者单位	1.[1] College of Mechanical Engineering, South China University of Technology, Guangzhou, China 2.[2] Chongqing Instrum. Mat. Res. Inst., Chongqing, China
推荐引用方式 GB/T 7714	Quan, Y.M.[1],Zhang, D.Y.[2],He, Z.W.[1]. Study on the Communication between Single Parameter Profilometer and PC (EI收录)[C]. 见:Key Engineering Materials. Kunming, China. November 28, 2003 - November 30, 2003.

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